LED 光源和燈具的良好熱設(shè)計(jì)對(duì)于確保 LED 在光輸出和使用壽命方面實(shí)現(xiàn)最佳性能至關(guān)重要。 LED 不會(huì)輻射大量的熱量，但在 LED 的半導(dǎo)體結(jié)內(nèi)會(huì)產(chǎn)生熱量，必須通過對(duì)流和傳導(dǎo)來消散。 LED 的內(nèi)量子效率隨著結(jié)溫的升高而降低。結(jié)溫隨著通過它的電流的增加而增加。因此，工作結(jié)溫由驅(qū)動(dòng)電流、環(huán)境溫度和散熱器設(shè)計(jì)的效率決定。
照明制造商通過測(cè)量光通量、光譜功率分布、色溫和顯色性等光度和色度參數(shù)來確保其產(chǎn)品的質(zhì)量。
這需要在測(cè)量過程中精確控制測(cè)試設(shè)備的驅(qū)動(dòng)電流和溫度穩(wěn)定性，如 CIE S 025/E:2015 [1] 中詳述。大多數(shù) LED 照明產(chǎn)品都以恒定電流模式（連續(xù)波，CW）或某種形式的 PWM、脈寬調(diào)制電流模式（準(zhǔn) CW）運(yùn)行。然而，在指定或“分級(jí)”其產(chǎn)品時(shí)，LED 芯片制造商會(huì)在單脈沖模式下測(cè)試其設(shè)備。因此，測(cè)試系統(tǒng)可以通過允許 LED 在連續(xù)波和脈沖模式下運(yùn)行而受益匪淺，從而可以將器件性能與制造商的聲明進(jìn)行直接比較。
TP121 -TH LED 測(cè)試系統(tǒng) 為 SMD 和板載 LED 器件提供全自動(dòng)測(cè)試?yán)?。該系統(tǒng)的光度、色度、熱學(xué)和電學(xué)測(cè)量參數(shù)均符合最新規(guī)范和法規(guī)，包括 CIE S 025、IES LM-79-08 [2] 和 DIN 5032 第 9 部分 [3]。
? [1] CIE S 025/E:2015 LED燈、LED燈具和LED模塊的測(cè)試方法
? [2] IES LM-79-08 固態(tài)照明產(chǎn)品的電氣和光度測(cè)量
? [3] DIN 5032-9 光度測(cè)量 - 第 9 部分：非相干發(fā)射半導(dǎo)體光源的光度測(cè)量
? BTS256-LED Tester 緊湊型 BiTec 光譜輻射計(jì)
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